Bu öğeden alıntı yapmak, öğeye bağlanmak için bu tanımlayıcıyı kullanınız:
http://hdl.handle.net/11452/5074
Başlık: | Çeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanması |
Diğer Başlıklar: | Designing microprocessor controlled automatic test system for testing various electronic systems and preparing microprocessor programs |
Yazarlar: | Tütüncüoğlu, Ergür Özak, Sevim Uludağ Üniversitesi/Fen Bilimleri Enstitüsü/Elektronik Anabilim Dalı. |
Anahtar kelimeler: | Mikroişlemci Microprocessor Otomatik test sistem Automatic test system |
Yayın Tarihi: | 14-Eyl-1987 |
Yayıncı: | Uludağ Üniversitesi |
Atıf: | Özak, S. (1987). Çeşitli elektronik sistemleri test etmek için mikroişlemci kontrollü otomatik test sisteminin tasarlanması ve mikroişlemci programlarının hazırlanması. Yayınlanmamış yüksek lisans tezi. Uludağ Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü. |
Özet: | Bu tezde gerçekleştirilen otomatik lojik entegre devre test cihazı, tipik bir software örneğidir. Çalışmalarımız sırasında çok kullandığımız lojik entegre devrelerin test edilmesi amaçlanmış olup, cihaz halen kütüphanesinde bulunan elemanları büyük bir doğrulukla test edebilmektedir. Test işlemleri, lojik seviyeleri kullanılarak yapılmaktadır. The logic integrated circuit designed in this thesis is a typical sample of software. In the study we aimed to test common types of integrated circuits which are capable of testing the components quite accurately. Test steps are realised by using logic signal levels. |
URI: | http://hdl.handle.net/11452/5074 |
Koleksiyonlarda Görünür: | Fen Bilimleri Yüksek Lisans Tezleri / Master Degree |
Bu öğenin dosyaları:
Dosya | Açıklama | Boyut | Biçim | |
---|---|---|---|---|
002074.pdf A kadar 2099-12-31 | 2.77 MB | Adobe PDF | Göster/Aç Bir kopya isteyin |
Bu öğe kapsamında lisanslı Creative Commons License